名称等仕様・品質等製造元
ローパスフィルタNF 3660エヌエフ回路設計ブロック
精密騒音計NL-52リオン（株）
全光束測定システムOP-FLUX-76-CAオーシャンフォトニクス
絶縁耐圧試験器3159日置電機（株）
差動プローブセットＰ６３３０・Ｐ５２１０・ＴＣＰ２０２Ｓソニー・テクトロニクス
光テストシステム装置ＡＱ２２００横河電機
ミックスドシグナルオシロスコープMSO4104日本テクトロニクス
プレシジョンパワーアナライザWT3000横河電機(株)
ネットワーク・アナライザー・システムＥ８３６４Ａアジレント・テクノロジー（株）
電気伝導率・熱電率測定装置ZEM/PEM-1型真空理工（株）
熱特性測定装置LFA457-A21 MicroFlashNETZSCH
熱膨張測定装置Ｔｈｅｒｍｏ　Ｐｌｕｓ　２理学電機
低高抵抗率測定システムロレスタMCP-T610,ハイレスタMCP-HT800（株）三菱アナリック
超音波映像装置FS200Ⅱ日立エンジニアリング・アンド・サービス
JSNDI仕様デジタル超音波探傷器USM35X JEGEインスペクション・ﾃｸﾉﾛｼﾞｰｽﾞ・ｼﾞｬﾊﾟﾝ（株）
磁束密度測定装置9550F.W.BELL
15MHzファンクションウェーブジェネレータ33120A日本ヒューレットパッカード
オシロスコープHP-54645A日本ヒューレットパッカード
材料物性測定装置１２６０－ＭＡＳ（ソーラートロン）東陽テクニカ
ゼータ電位測定装置Nano ZSysmex
雷サージ試験システムＬＳＳ－１５ＡＸ－Ｃ１／Ｓ㈱ノイズ研究所
雑音総合評価試験機ＭＯＤＥＬ ＥＭＣ−５０００Ｓ（株）ノイズ研究所
ファストトランジェント／バースト試験機FNS-AX3-B50B（株）ノイズ研究所
電子スピン共鳴測定装置EMXplus型（マイクロ波ブリッジ含）ブルカー・バイオスピン社
2次元光検出器BQ-73LNビットラン
紫外分光式磁気特性評価装置BH-M800UV-HD-10ネオアーク
ポータブル型分光測定装置ARCspectro FT-NIR Rocket 0.9-2.6ARCopix S.A.社
サンプリングオシロスコープ9354TMレクロイジャパン
高速スペクトラムアナライザE4401BHP
電波暗室・EMI測定システムESIB26aRohde&Schwars
電波暗室用センサスキャナDM3423AV1/0デバイス
高利得マイクロ波アンテナEM-6969Electro Metrics
電磁シールド特性評価システムKEC法測定システムテクノサイエンスジャパン
雑音電力測定システムMAC600A-AJ , EPS/RFP-AJ(株)東陽テクニカ
雑音測定用疑似通信回路網KNW-2208, KNW-441, およびF-51協立電子工業(株)
MTF評価装置Image Master HR LPトライオプティクス
光マイクロメータMTI-2000 1157MTI
光マイクロメータMTI-2000 1165MTI
FFTサーボアナライザHP35670AHP
高分解能光ファイバー式変位計ATW-01 +ATP-A20フォトニクス
5ch 静電容量変位計PS-Ⅲ-5Dナノテックス
オートコリメータ6Bニコン
スペクトラムアナライザHP4396BHP
ロジックアナライザ16804Aアジレントテクノロジー㈱
オシロスコープDSO7104Aアジレントテクノロジー㈱
レーザ干渉変位計システムLV-2100株式会社小野測器
レーザドップラ振動計LV-1800小野測器
差動型非接触振動計LV-1800小野測器(株）
ローパスフィルタ3660Aエヌエフ回路設計ブロック
ロングメモリオシロスコープLC574ALレクロイ
オシロスコープ54622AAgilentTechnologies
磁気抵抗測定装置MRMS-10Kハヤマ
色彩輝度計分光フィッテイング方式　CS-200コニカミノルタ
アッベ屈折計DR-M4/1550アタゴ
LCRメータHP4284AHP
マルチメータHP3458AHP
アンプ付き電流プローブＡＭ５０３Ｓ＋ｏｐ０５ソニーテクトロニクス
デジタルオシロスコープWR6051ALeCroy
EMC試験用交流安定化電源ES2000S+ES2000B×2台エヌエフ回路設計ブロック
分光エリプソメータSE2000日本セミラボ株式会社
車載機器放射イミュニティ用アンテナイミュニティ試験システム東陽テクニカ
静電気試験器ESS-S3011Aノイズ研究所
デジタルオシロスコープDSOS104Aキーサイト・テクノロジー
可視光対応光スペクトラムアナライザーAQ6374-10-L1-D/FC/RFC横河計測
電源周波数磁界イミュニティ試験装置IEC61000-4-8対応テクノサイエンスジャパン
インピーダンスアナライザE4991Bキーサイト・テクノロジー