| 名称等 | 仕様・品質等 | 製造元 |
| ローパスフィルタ | NF 3660 | エヌエフ回路設計ブロック |
| 精密騒音計 | NL-52 | リオン（株） |
| 全光束測定システム | OP-FLUX-76-CA | オーシャンフォトニクス |
| 絶縁耐圧試験器 | 3159 | 日置電機（株） |
| 差動プローブセット | Ｐ６３３０・Ｐ５２１０・ＴＣＰ２０２Ｓ | ソニー・テクトロニクス |
| 光テストシステム装置 | ＡＱ２２００ | 横河電機 |
| ミックスドシグナルオシロスコープ | MSO4104 | 日本テクトロニクス |
| プレシジョンパワーアナライザ | WT3000 | 横河電機(株) |
| ネットワーク・アナライザー・システム | Ｅ８３６４Ａ | アジレント・テクノロジー（株） |
| 電気伝導率・熱電率測定装置 | ZEM/PEM-1型 | 真空理工（株） |
| 熱特性測定装置 | LFA457-A21 MicroFlash | NETZSCH |
| 熱膨張測定装置 | Ｔｈｅｒｍｏ Ｐｌｕｓ ２ | 理学電機 |
| 示差走査熱量計 | X-DSC7000 | ｾｲｺｰｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ株式会社 |
| 低高抵抗率測定システム | ロレスタMCP-T610,ハイレスタMCP-HT800 | （株）三菱アナリック |
| 超音波映像装置 | FS200Ⅱ | 日立エンジニアリング・アンド・サービス |
| JSNDI仕様デジタル超音波探傷器 | USM35X JE | GEインスペクション・ﾃｸﾉﾛｼﾞｰｽﾞ・ｼﾞｬﾊﾟﾝ（株） |
| 磁束密度測定装置 | 9550 | F.W.BELL |
| 15MHzファンクションウェーブジェネレータ | 33120A | 日本ヒューレットパッカード |
| オシロスコープ | HP-54645A | 日本ヒューレットパッカード |
| 材料物性測定装置 | １２６０－ＭＡＳ（ソーラートロン） | 東陽テクニカ |
| ゼータ電位測定装置 | Nano Z | Sysmex |
| 雷サージ試験システム | ＬＳＳ－１５ＡＸ－Ｃ１／Ｓ | ㈱ノイズ研究所 |
| 雑音総合評価試験機 | ＭＯＤＥＬ ＥＭＣ−５０００Ｓ | （株）ノイズ研究所 |
| ファストトランジェント／バースト試験機 | FNS-AX3-B50B | （株）ノイズ研究所 |
| 分光光度計 | U-3000 | （株）日立製作所 |
| 電子スピン共鳴測定装置 | EMXplus型（マイクロ波ブリッジ含） | ブルカー・バイオスピン社 |
| 2次元光検出器 | BQ-73LN | ビットラン |
| 紫外分光式磁気特性評価装置 | BH-M800UV-HD-10 | ネオアーク |
| ポータブル型分光測定装置 | ARCspectro FT-NIR Rocket 0.9-2.6 | ARCopix S.A.社 |
| 高感度マグネットメータ | MicroMag2900 | プリンストンメジャメンツ社 |
| サンプリングオシロスコープ | 9354TM | レクロイジャパン |
| 高速スペクトラムアナライザ | E4401B | HP |
| 電波暗室・EMI測定システム | ESIB26a | Rohde&Schwars |
| 電波暗室用センサスキャナ | DM3423AV1/0 | デバイス |
| 高利得マイクロ波アンテナ | EM-6969 | Electro Metrics |
| 電磁シールド特性評価システム | KEC法測定システム | テクノサイエンスジャパン |
| 雑音電力測定システム | MAC600A-AJ , EPS/RFP-AJ | (株)東陽テクニカ |
| 雑音測定用疑似通信回路網 | KNW-2208, KNW-441, およびF-51 | 協立電子工業(株) |
| MTF評価装置 | Image Master HR LP | トライオプティクス |
| FFTアナライザ | HP35670A | HP |
| ディジタルオシロスコープ | HP54542A | HP |
| 光マイクロメータ | MTI-2000 1157 | MTI |
| 光マイクロメータ | MTI-2000 1165 | MTI |
| レーザードップラー振動計 | LV-1500 | 小野測器 |
| FFTサーボアナライザ | HP35670A | HP |
| 高分解能光ファイバー式変位計 | ATW-01 +ATP-A20 | フォトニクス |
| 5ch 静電容量変位計 | PS-Ⅲ-5D | ナノテックス |
| オートコリメータ | 6B | ニコン |
| スペクトラムアナライザ | HP4396B | HP |
| 高分解能オシロスコープ | HP54540C | HP |
| ロジックアナライザ | 16804A | アジレントテクノロジー㈱ |
| オシロスコープ | DSO7104A | アジレントテクノロジー㈱ |
| レーザ干渉変位計システム | LV-2100 | 株式会社小野測器 |
| レーザドップラ振動計 | LV-1800 | 小野測器 |
| 差動型非接触振動計 | LV-1800 | 小野測器(株） |
| ローパスフィルタ | 3660A | エヌエフ回路設計ブロック |
| ロングメモリオシロスコープ | LC574AL | レクロイ |
| オシロスコープ | 54622A | AgilentTechnologies |
| 磁気抵抗測定装置 | MRMS-10K | ハヤマ |
| 色彩輝度計 | 分光フィッテイング方式 CS-200 | コニカミノルタ |
| アッベ屈折計 | DR-M4/1550 | アタゴ |
| LCRメータ | HP4284A | HP |
| マルチメータ | HP3458A | HP |
| アンプ付き電流プローブ | ＡＭ５０３Ｓ＋ｏｐ０５ | ソニーテクトロニクス |
| デジタルオシロスコープ | WR6051A | LeCroy |
| EMC試験用交流安定化電源 | ES2000S+ES2000B×2台 | エヌエフ回路設計ブロック |
| 分光エリプソメータ | SE2000 | 日本セミラボ株式会社 |
| 車載機器放射イミュニティ用アンテナ | イミュニティ試験システム | 東陽テクニカ |
| 静電気試験器 | ESS-S3011A | ノイズ研究所 |
| デジタルオシロスコープ | DSOS104A | キーサイト・テクノロジー |
| 可視光対応光スペクトラムアナライザー | AQ6374-10-L1-D/FC/RFC | 横河計測 |
| 電源周波数磁界イミュニティ試験装置 | IEC61000-4-8対応 | テクノサイエンスジャパン |
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