名称等 | 磁気抵抗測定装置 | 設備分類 | 計測技術(電磁光音など) |
---|---|---|---|
製造元 | ハヤマ | 仕様・品質等 | MRMS-10K |
用途等 | 磁場中で磁性薄膜および半導体薄膜の電気特性を評価するために用いる |
||
詳細仕様 | 測定試料:1インチ角、0.5mm厚 磁場印加システム ○プローバー |
使用料 | 3,770(円/時間) | 導入年度 | 平成20年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 2F:高機能開放研究室D 271 | 主担当者名 | 黒澤 孝裕 |
名称等 | 磁気抵抗測定装置 | 設備分類 | 計測技術(電磁光音など) |
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製造元 | ハヤマ | 仕様・品質等 | MRMS-10K |
用途等 | 磁場中で磁性薄膜および半導体薄膜の電気特性を評価するために用いる |
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詳細仕様 | 測定試料:1インチ角、0.5mm厚 磁場印加システム ○プローバー |
使用料 | 3,770(円/時間) | 導入年度 | 平成20年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 2F:高機能開放研究室D 271 | 主担当者名 | 黒澤 孝裕 |