名称等磁気抵抗測定装置 設備分類計測技術(電磁光音など)
製造元ハヤマ 仕様・品質等MRMS-10K
用途等

磁場中で磁性薄膜および半導体薄膜の電気特性を評価するために用いる

詳細仕様

測定試料:1インチ角、0.5mm厚

磁場印加システム
○バイポーラ電源により、最大10 kOe以上、最小-10 kOe以下の磁場を測定試料に印加可能
磁場の測定の分解能が0.1 Oe以下

○プローバー
DCから最大3 GHzの周波数帯域を測定できるプローブを4基以上備えている

使用料3,770(円/時間) 導入年度平成20年度
設置場所高度技術研究館 2F:高機能開放研究室D 271 主担当者名鈴木 淑男   
担当部署先端機能素子開発部 スピン・ナノデバイスGr 副担当者名