名称等 | ネットワーク・アナライザー・システム | 設備分類 | 計測技術(電磁光音など) |
---|---|---|---|
製造元 | アジレント・テクノロジー(株) | 仕様・品質等 | E8364A |
用途等 | 高周波回路網、高周波部品等の通過・反射電力の周波数特性を測定する測定器 |
||
詳細仕様 | 周波数レンジ:45MHzから50GHz |
使用料 | 1,260(円/時間) | 導入年度 | 平成14年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 | 主担当者名 | 黒澤 孝裕 |
担当部署 | 先端機能素子開発部 機能性材料・デバイスGr | 副担当者名 | 木谷 貴則 |
名称等 | ネットワーク・アナライザー・システム | 設備分類 | 計測技術(電磁光音など) |
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製造元 | アジレント・テクノロジー(株) | 仕様・品質等 | E8364A |
用途等 | 高周波回路網、高周波部品等の通過・反射電力の周波数特性を測定する測定器 |
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詳細仕様 | 周波数レンジ:45MHzから50GHz |
使用料 | 1,260(円/時間) | 導入年度 | 平成14年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 | 主担当者名 | 黒澤 孝裕 |
担当部署 | 先端機能素子開発部 機能性材料・デバイスGr | 副担当者名 | 木谷 貴則 |