名称等 | レーザ干渉変位計システム | 設備分類 | 計測技術(電磁光音など) |
---|---|---|---|
製造元 | 株式会社小野測器 | 仕様・品質等 | LV-2100 |
用途等 | わずかに周波数が異なる信号光と,参照光のレーザ光を重ね合わせて,そのビート(うなり)信号を検出する測定手法 |
||
詳細仕様 | ①測定分解能は,0.5nm以下 |
使用料 | 130(円/時間) | 導入年度 | 平成21年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 1F:試験室(メカトロB)413 | 主担当者名 | 荒川 亮 |
名称等 | レーザ干渉変位計システム | 設備分類 | 計測技術(電磁光音など) |
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製造元 | 株式会社小野測器 | 仕様・品質等 | LV-2100 |
用途等 | わずかに周波数が異なる信号光と,参照光のレーザ光を重ね合わせて,そのビート(うなり)信号を検出する測定手法 |
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詳細仕様 | ①測定分解能は,0.5nm以下 |
使用料 | 130(円/時間) | 導入年度 | 平成21年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 1F:試験室(メカトロB)413 | 主担当者名 | 荒川 亮 |