名称等電磁シールド特性評価システム 設備分類計測技術(電磁光音など)
製造元テクノサイエンスジャパン 仕様・品質等KEC法測定システム
用途等

KEC(関西電子工業振興センター) 法を用いたシールド特性の評価に使用

詳細仕様

・周波数150 kHz{1 GHz の範囲でシールド特性を評価可能
・4. 60dB 以上の測定ダイナミックレンジ
・外形50mm × 50mm、厚さ3 mm の試料を評価可能

使用料120(円/時間) 導入年度平成22年度
設置場所高度技術研究館 1F:電波暗室408 主担当者名黒澤 孝裕   
担当部署先端機能素子開発部 スピン・ナノデバイスGr 副担当者名