名称等電磁シールド特性評価システム 設備分類計測技術（電磁光音など）
製造元テクノサイエンスジャパン 仕様・品質等KEC法測定システム
用途等

KEC(関西電子工業振興センター) 法を用いたシールド特性の評価に使用
詳細仕様

・周波数150 kHz{1 GHz の範囲でシールド特性を評価可能
・4. 60dB 以上の測定ダイナミックレンジ
・外形50mm × 50mm、厚さ3 mm の試料を評価可能
使用料120（円／時間） 導入年度平成22年度
設置場所高度技術研究館　1F:電波暗室408 主担当者名黒澤 孝裕