名称等 | 光テストシステム装置 | 設備分類 | 計測技術(電磁光音など) |
---|---|---|---|
製造元 | 横河電機 | 仕様・品質等 | AQ2200 |
用途等 | 光スイッチの光学的特性テスト(減衰特性、波長特性、スイッチ動作時の消光比)と実際にデータ信号を処理した場合の誤り率テストを同時に行う装置。 |
||
詳細仕様 | レーザー光源:1310から1550nm |
使用料 | 710(円/時間) | 導入年度 | 平成17年度 |
設置場所 | 本館 A棟2F:ユビキタス研究室 | 主担当者名 | 佐々木 信也 |
名称等 | 光テストシステム装置 | 設備分類 | 計測技術(電磁光音など) |
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製造元 | 横河電機 | 仕様・品質等 | AQ2200 |
用途等 | 光スイッチの光学的特性テスト(減衰特性、波長特性、スイッチ動作時の消光比)と実際にデータ信号を処理した場合の誤り率テストを同時に行う装置。 |
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詳細仕様 | レーザー光源:1310から1550nm |
使用料 | 710(円/時間) | 導入年度 | 平成17年度 |
設置場所 | 本館 A棟2F:ユビキタス研究室 | 主担当者名 | 佐々木 信也 |