本装置は、以下の特徴があります。
・可視光から近赤外光を含む広い波長範囲（350 – 1750 nm）の光の分光特性を1台で測定・評価します。
・光ファイバーを使って測定光を入射するので、光通信用のデバイスの評価以外にもファイバー端に入射される自由空間の光計測が可能です。
・広帯域光源と平行ビームマウントマウントを用いて光学フィルタの分光透過特性の測定が行えます。
設備の詳細は以下のパンフレットをご覧ください。
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お知らせ
本装置は、以下の特徴があります。
・可視光から近赤外光を含む広い波長範囲（350 – 1750 nm）の光の分光特性を1台で測定・評価します。
・光ファイバーを使って測定光を入射するので、光通信用のデバイスの評価以外にもファイバー端に入射される自由空間の光計測が可能です。
・広帯域光源と平行ビームマウントマウントを用いて光学フィルタの分光透過特性の測定が行えます。
設備の詳細は以下のパンフレットをご覧ください。