本装置は、JIS R1611-1997、JIS R1650-3-2002、JIS H7801-2005に準拠したレーザーフラッシュ法により、固体（金属、セラミックス、高分子、多層材料、異方性材料等）の熱拡散率α、比熱容量Cpの測定が可能です。また、熱拡散率α、比熱容量Cp、密度ρを掛け合わせ、λ＝α・Cp・ρの関係式より熱伝導率λ［W / (mK)］を求めることができます。
詳しくはパンフレットをご覧ください。
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本装置は、JIS R1611-1997、JIS R1650-3-2002、JIS H7801-2005に準拠したレーザーフラッシュ法により、固体（金属、セラミックス、高分子、多層材料、異方性材料等）の熱拡散率α、比熱容量Cpの測定が可能です。また、熱拡散率α、比熱容量Cp、密度ρを掛け合わせ、λ＝α・Cp・ρの関係式より熱伝導率λ［W / (mK)］を求めることができます。
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