X線回折装置

　本装置は、固体物質（セラミックス、金属、鉱物、等）に波長が一定の単色エックス線を入射角度を変えながら連続的に照射し、得られる回折ピークから固体物質の結晶構造を解析（定性および定量）する装置です。

１．エックス線発生部
　　　最大定格出力：18kW
　　　定格電圧　　：20から60kV
　　　定格電流　　：10から300mA
　　　制御方式　　：インバータ制御
　　　安定度　　　：入力電源変動±10％以内に対し±0.01％以内
　　　ターゲット　：Ｃｕロータターゲット
　　　焦点サイズ　：0.5×10mm2
　　　防エックス線カバー：フェイルセーフ機構付、外側では2.5μSV/hr以下
２．ゴニオメータ部
　　　スキャンモード　：2θ/θ連動、θ、2θ単独
　　　ゴニオメータ半径：185mm
　　　２θ測角範囲　　：3から145°
　　　設定再現性　　　：1/1000°
　　　スリット　　　　：ＤＳ　1/2°，1°，2°，0.05mm　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　ＲＳ　0.15，0.3，0.6mm　　　　　　
　　　　　　　　　　　　ＳＳ　1/2°，1°，2°　
　　　定速自動送り　　：
　　　　　　　２θ/θ　　0.002から100°/min
　　　　　　　２θ　 　0.001から100°/min
　　　　　　　　θ　 　 0.001から100°/min
　　　モノクロメーター：平板状
３．検出部
　　　計数直線性：500,000CPS以上
　　　シンチレーションカウンタ：シンチレータNaI
４．解析処理
　　　定性分析、定量分析