名称等 | マイクロオージェ電子分光装置 | 設備分類 | 評価技術(化学組成など) |
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製造元 | 日本電子㈱ | 仕様・品質等 | JAMP-7830F |
用途等 | 試料の微小領域における元素分析、深さ方向分析、化学結合状態分析 |
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詳細仕様 | 電子銃:ショットキーフィールドエミッションタイプ、プローブ径:4nm(二次電子像)、10nm(オージェ)、エネルギー範囲:0-3000eV |
使用料 | 9,270(円/時間) | 導入年度 | 平成14年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 1F:走査型電子顕微鏡室401 | 主担当者名 | 岡田 紀子 |