名称等 | 薄膜構造評価用高輝度X線回折装置 | 設備分類 | 解析技術 |
---|---|---|---|
製造元 | 理学電機 | 仕様・品質等 | ATX-G |
用途等 | 定格出力:18Kw、X線源:Cu、5軸ゴニオメータ |
||
詳細仕様 | 測定試料の大きさ:1インチ角以上3インチ丸以内、厚み:1mm以下 |
使用料 | 5900(円/時間) | 導入年度 | 平成12年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 1F:X線解析室400 | 主担当者名 | 鈴木 淑男 |
担当部署 | 先端機能素子開発部 スピン・ナノデバイスGr | 副担当者名 |
名称等 | 薄膜構造評価用高輝度X線回折装置 | 設備分類 | 解析技術 |
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製造元 | 理学電機 | 仕様・品質等 | ATX-G |
用途等 | 定格出力:18Kw、X線源:Cu、5軸ゴニオメータ |
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詳細仕様 | 測定試料の大きさ:1インチ角以上3インチ丸以内、厚み:1mm以下 |
使用料 | 5900(円/時間) | 導入年度 | 平成12年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 1F:X線解析室400 | 主担当者名 | 鈴木 淑男 |
担当部署 | 先端機能素子開発部 スピン・ナノデバイスGr | 副担当者名 |