| 名称等 | Ｘ線応力測定装置 | 設備分類 | 評価技術（材料特性など） |
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| 製造元 | （株）マックサイエンス | 仕様・品質等 | ＭＸＰ３ＡＨＰ |
| 用途等 | 試料へ異なる入射角度でＸ線を照射し、格子間隔の変化を測定することにより、検査物の表層の応力を測定する装置です。検出器にＰＳＰＣを用いているため迅速な測定が可能です。残留応力の測定には表面の状態が非情に影響しますので測定目的に合わせた前処理等試料の調整が必要です。 |
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| 詳細仕様 | Ｘ線発生装置 |
使用料 | 1,730（円／時間） | 導入年度 | 平成7年度 |
| 設置場所 | 本館 A棟2F:無機化学研究室 | 主担当者名 | 木村 光彦 |
