名称等 | レーザー直接描画装置 | 設備分類 | 薄膜技術 |
---|---|---|---|
製造元 | ハイデルベルク社 | 仕様・品質等 | DWL 200UV |
用途等 | フォトマスクの作製、およびマスクレスフォトリソグラフィ | ||
詳細仕様 | 標準レジスト(i,g線)の露光、最大基板サイズ:200mm角、最小描画線幅:0.6μm、自動フォーカス・位置合わせ機能 | 使用料 | 270(円/時間) | 導入年度 | 平成10年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 1F:CR微細加工411 | 主担当者名 | 高橋 慎吾 |
担当部署 | 先端機能素子開発部 | 副担当者名 |
名称等 | レーザー直接描画装置 | 設備分類 | 薄膜技術 |
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製造元 | ハイデルベルク社 | 仕様・品質等 | DWL 200UV |
用途等 | フォトマスクの作製、およびマスクレスフォトリソグラフィ | ||
詳細仕様 | 標準レジスト(i,g線)の露光、最大基板サイズ:200mm角、最小描画線幅:0.6μm、自動フォーカス・位置合わせ機能 | 使用料 | 270(円/時間) | 導入年度 | 平成10年度 |
設置場所 | 高度技術研究館 1F:CR微細加工411 | 主担当者名 | 高橋 慎吾 |
担当部署 | 先端機能素子開発部 | 副担当者名 |